產(chǎn)品中心
products
方案概述
在生產(chǎn)制造過(guò)程中,傳統(tǒng)人工缺陷檢測(cè)的方式已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足檢測(cè)需求,智能化的檢測(cè)技術(shù)逐漸發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。以在電子行業(yè)應(yīng)率較高的AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))技術(shù)為例,AOI是先將疑似缺陷產(chǎn)品檢出,然后由人工判別缺陷種類(lèi)和缺陷位置,雖然已達(dá)到自動(dòng)化水平,但仍然有檢測(cè)過(guò)程耗時(shí)耗力、成本高的不足。
圖靈推出的缺陷自動(dòng)檢測(cè)及分類(lèi)(ADC,Automatic Defect Classifification)解決方案,可以將在生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生的不良問(wèn)題,例如不良種類(lèi)、不良大小、位置等,進(jìn)行綜合計(jì)算和缺陷的自動(dòng)分類(lèi);對(duì)一些干擾因素,如環(huán)境干擾、設(shè)備故障等進(jìn)行及時(shí)的修正和改善,避免不良的繼續(xù)產(chǎn)生。
同時(shí),也為后續(xù)的返工(Rework)、返修(Repair)等工藝操作提供指導(dǎo),提高效率,降低整個(gè)系統(tǒng)的不良率,及時(shí)減少返工和返修的工作量,顯著提升缺陷辨識(shí)率、缺陷分類(lèi)正確率和檢測(cè)效率。
方案優(yōu)勢(shì)
提升判圖速率
提升缺陷判定與分類(lèi)準(zhǔn)確度
應(yīng)用場(chǎng)景
顯示半導(dǎo)體?板缺陷檢測(cè)分析
晶圓半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)分析
3C及電子行業(yè)瑕疵檢測(cè)與分析
客戶(hù)案例
某頭部半導(dǎo)體公司液晶面板缺陷檢測(cè)項(xiàng)目對(duì)于半導(dǎo)體制造企業(yè)而言,大量的數(shù)據(jù)是以非結(jié)構(gòu)化的形式,也即圖片的形式存在的,尤其是與良品率相關(guān)的數(shù)據(jù)。
而這些非結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)的信息提取嚴(yán)重依賴(lài)人工,效率非常低下,也是造成了良品率分析的瓶頸。要維持提高良品率,必須對(duì)產(chǎn)線進(jìn)行24小時(shí)的監(jiān)控,
因此發(fā)現(xiàn)問(wèn)題到處理完成的時(shí)效性,對(duì)工廠的經(jīng)濟(jì)指標(biāo)非常重要。針對(duì)半導(dǎo)體企業(yè)需求,基于圖靈威視的深度算法,可以有效將產(chǎn)品進(jìn)行?動(dòng)缺陷檢測(cè)及分類(lèi),
提高效率降低整個(gè)系統(tǒng)的不良率,及時(shí)減少返?和返修的?作量,有效節(jié)省人力成本。
缺陷識(shí)別率:99%+
成本節(jié)省約:80%+
聯(lián)系地址:
四川省成都市高新區(qū)天華一路99號(hào)天府軟件園B2-102
微信
客服
24小時(shí)服務(wù)熱線
136-8342-5190